- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Modern Interferometry for Length Metrology
Exploring limits and novel techniques
€ 242,95
+ 485 punten
Omschrijving
Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring limits and novel techniques gives an overview of refined traditional methods and novel techniques in the field of length and distance metrology. Within the book advanced solutions, which can be used for various applications and can help provide a comprehensive understanding of both metrology and interferometry, have been developed and discussed.
Specificaties
Betrokkenen
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 350
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780750315760
- Verschijningsdatum:
- 21/12/2018
- Uitvoering:
- Hardcover
- Bestandsformaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 178 mm x 254 mm
- Gewicht:
- 780 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 485 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
MUST-HAVES
AANGERADEN
VADERDAG ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.