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Omschrijving

Dieses Buch wendet sich an Analytiker, die sich mit der Silikat- analyse befassen, sei es in wissenschaftlichen Instituten, in der Industrie oder als Studenten. Der beschriebene Analysengang der chemischen Silikatanalyse ist auf die neueren spektralphoto- metrischen, komplexometrischen und flarnrnenspektrometrischen Ana- lysenrnethoden abgestimmt. Er bietet eine Alternative nicht nur zur klassischen gravimetrischen Silikatanalyse sondern auch zu neueren physikalisch-instrumentellen Methoden. Selbst an kleinen Substanzmengen werden in einern Gang neben den chemischen Haupt- bestandteilen der Silikate eine größere Anzahl der wichtigsten Neben- und Spurenbestandteile quantitativ analysiert. Durch den chemischen Analysen- und Trennungsgang werden für jedes Analysen- element die optimalen Voraussetzungen zum physikalischen Meßvor- gang geschaffen. Soll allein mit physikalisch-instrumentellen Methoden die gleiche Anzahl von Elementen mit vergleichbarer Zu- verlässigkeit analysiert werden, dann wird für die Mehrzahl der Spurenelemente eine individuelle Probenvorbereitung notwendig und der Arbeitsaufwand kann größer werden als der des hier be- schriebenen chemischen Analysenganges. Im vorliegenden Buch sind langjährige Erfahrungen mit den neue ren Methoden der chemischen Silikatanalyse niedergelegt. Am Beginn stand die Notwendigkeit, in vielen Gesteinsproben die chemischen Hauptbestandteile möglichst schnell und mit relativ geringem appa- rativen Aufwand zu analysieren. Dazu boten sich die Methoden von L. Shapiro und W. W. Brannock "Rapid analysis of silicate rocks" (U. S. Geol. Surv. Bull. 1ü36-C, 1956) als besonders geeignet an. Bald wurden Mängel erkennbar und die Grundlagen dieser Methoden mußten genauer studiert werden, um die Grenzen ihrer Anwendbar- keit zu erkennen.