• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Techniek
  5. Biotechnologie & Chemische technologie
  6. Uncertainty Quantification of Stochastic Defects in Materials

Uncertainty Quantification of Stochastic Defects in Materials

Liu Chu
€ 94,95
+ 189 punten
Uitvoering
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Uncertainty Quantification of Stochastic Defects in Materials investigates the uncertainty quantification methods for stochastic defects in material microstructures. It provides effective supplementary approaches for conventional experimental observation with the consideration of stochastic factors and uncertainty propagation. Pursuing a comprehensive numerical analytical system, this book establishes a fundamental framework for this topic, while emphasizing the importance of stochastic and uncertainty quantification analysis and the significant influence of microstructure defects on the material macro properties.

Key Features

  • Consists of two parts: one exploring methods and theories and the other detailing related examples
  • Defines stochastic defects in materials and presents the uncertainty quantification for defect location, size, geometrical configuration, and instability
  • Introduces general Monte Carlo methods, polynomial chaos expansion, stochastic finite element methods, and machine learning methods
  • Provides a variety of examples to support the introduced methods and theories
  • Applicable to MATLAB(R) and ANSYS software

This book is intended for advanced students interested in material defect quantification methods and material reliability assessment, researchers investigating artificial material microstructure optimization, and engineers working on defect influence analysis and nondestructive defect testing.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
196
Taal:
Engels
Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9781032128757
Verschijningsdatum:
27/05/2024
Uitvoering:
Paperback
Bestandsformaat:
Trade paperback (VS)
Afmetingen:
156 mm x 234 mm
Gewicht:
303 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 189 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
MUST-HAVES

Hier bloeit iets

Nu dubbele punten op onze selectie nieuwe titels
MUST-HAVES
Hier bloeit iets
AANGERADEN

Onze cadeautips

voor Vaderdag
AANGERADEN
Onze cadeautips voor Vaderdag
VADERDAG ACTIE

Alleen in onze winkels: kortingsbon van € 10 voor e-books

bij een Vivlio e-reader
VADERDAG ACTIE
Vivlio e-reader + € 10 aan e-books
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.