Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Winkels

Verlanglijstje

Winkels

Verlanglijstje

Zoeken

Volg ons op

140 winkels

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Vind hier een winkel

€ 70,95

+ 141 punten

Levertermijn 1 à 4 weken

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

This book includes two testing methodologies based on Built In Sensors (BIS) and an optimization-based technique. The first part proposes two novel built-in sensors (BISs) for digital CMOS and analog circuits testing. The BISs have no voltage degradation, able to detect, identify and localize open and short circuit faults,have simple realizations with very small area and detection time. BIS is used to test a 4x4 multiplier cell where all injected faults are detected and localized. The other BIS is dedicated to test analog circuits. It is applied to test two well-known analog building blocks; the Current Feedback Operational Amplifier (CFOA) and the Operational Transresistance Amplifier (OTRA).The proposed BIS tests on the terminal characteristics of the analog blocks. Simulations are made to test CFOA-based universal analog filter and an OTRA-based universal filter. The second part proposes a testing algorithm to detect single and double parametric faults in analog circuit by estimating the actual parameter values of the CUT. The algorithm is applied to a Sallen-Key second order band pass filter and simulations show that all injected faults are detected and diagnostic correctly.