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Spektralanalyse Durch Messung Des Interferenz-Kontrasts

Walter Weizel
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Omschrijving

Es wird ein Meßyerfahren und Meßgerät beschrieben, mit dem der Interferenz- kontrast eines Interferenzfeldes automatisch registriert werden kann. Aus der Registrierkurye kann die Linienform einer Spektrallinie oder die Struk- tur einer einfachen Liniengruppe mit hoher Auflösung entnommen werden. Das Verfahren erreicht bei Linien großer Intensität gute Genauigkeit und hohes Auflösungsyermögen. Es eignet sich besonders zur Untersuchung von Einzel- linien und eng benachbarten Dubletts. In dieser Arbeit wird das experimen- telle Verfahren beschrieben und seine Leistungsfähigkeit diskutiert. Meß- ergebnisse und die Theorie des Interferen ontrastes sind an anderer Stelle ] veröffentlicht. 11. Einführung Die spektrale Zusammensetzung des Lichtes pflegt man gewöhnlich zu ermit- teln, indem man durch Anordnung von Prismen oder Interferenzgeräten das Licht verschiedener Wellenlänge räumlich trennt und Licht gleicher Wellen- länge an bestimmten Stellen konzentriert. Es entsteht so das Spektrum der gewöhnlichen Spektrala parate verschiedenster Konstruktion. Dieses Verfah- ren ist auf einen hohen technischen Stand entwickelt und findet seine Gren- zen in dem Auflösungsyermögen der Geräte. Es gibt nun einige spektrosko- pische Probleme, z. B. die Analyse sehr enger Liniengruppen oder die Bestim- mung der Linienform schmaler Linien, für deren Bearbeitung die normalen spektroskopischen Hilfsmittel nicht besonders geeignet sind und deshalb bedeutende apparative Anstrengungen erfordern, um ein möglichst hohes Auf- lösungsyermögen zu erzielen. Gerade derartigen Problemen kann man aber auf einem ganz anderen Wege nahekommen.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
42
Taal:
Duits
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 334

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9783663041320
Verschijningsdatum:
1/01/1956
Uitvoering:
Paperback
Formaat:
Trade paperback (VS)
Afmetingen:
210 mm x 297 mm
Gewicht:
131 g
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