- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sarah Fearn, Alexander Shard
Paperback | Engels
€ 45,95
+ 91 punten
Omschrijving
In this edition, a more detailed overview of the principles of SIMS is given, and of how the development of dual-beam instruments has blurred the traditional fields of dynamic and static SIMS to enable greater analytical possibilities. This is an ideal text for final year undergraduates, first year PhD students, and anyone who may be starting out using secondary ion mass spectrometry as part of their research.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 125
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780750333320
- Verschijningsdatum:
- 1/12/2025
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 178 mm x 254 mm
- Gewicht:
- 213 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 91 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
ACTIE
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.