- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- In januari gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- In januari gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sarah Fearn, Alexander Shard
€ 183,45
+ 366 punten
Omschrijving
In this edition of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) and its Application to Material Science the authors expand further on the principles and methods presented in the first edition. A more detailed overview of the principles of SIMS is given, and of how the development of dual-beam instruments has blurred the traditional fields of dynamic and static SIMS to enable greater analytical possibilities. In particular the development and application of cluster ion beams, and how this has opened up a new area of materials analysis. Practical information on how to obtain high quality SIMS data, and what parameters should be used to define this are also considered.
Key Features:
- Update and significant extension compared to 1st edition
- New chapter on data analysis
- Accessible for students from different backgrounds
- Includes applications across materials,
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 125
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780750333290
- Verschijningsdatum:
- 26/08/2025
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 178 mm x 254 mm
- Gewicht:
- 417 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 366 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Cadeau
AANGERADEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.