- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 117,95
+ 235 punten
Uitvoering
Omschrijving
Various well-developed techniques such as optical microscopy and different forms of electron microscopy (Scanning Electron Micr- copy, SEM; The invention of Scanning Tunneling Microscopy (STM) inspired the devel- ment of Atomic Force Microscopy (AFM) and other forms of scanning proximity microscopes in the late 1980s [4, 5].
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 248
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783642012303
- Verschijningsdatum:
- 1/03/2010
- Uitvoering:
- Hardcover
- Afmetingen:
- 155 mm x 235 mm
- Gewicht:
- 516 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 235 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
AANGERADEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.