• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Scanning Force Microscopy

With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces

Dror Sarid
Hardcover | Engels | Oxford Optical and Imaging Sciences | nr. 5
€ 644,45
+ 1288 punten
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

This edition updates the survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
288
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 5

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9780195092042
Verschijningsdatum:
25/08/1994
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
164 mm x 245 mm
Gewicht:
680 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 1288 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Wedstrijd

Alleen in onze winkels: Win een weekend voor twee in Parijs

bij aankoop van een titel uit de selectie
Wedstrijd
wedstrijd parijs
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.