Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • In januari gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • In januari gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Scanning Force Microscopy

With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces

Dror Sarid
Hardcover | Engels | Oxford Optical and Imaging Sciences | nr. 5
€ 644,45
+ 1288 punten
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
In januari gratis thuislevering in België (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

This edition updates the survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
288
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 5

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9780195092042
Verschijningsdatum:
25/08/1994
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
164 mm x 245 mm
Gewicht:
680 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 1288 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
SOLDEN

30% korting

op een mooie selectie boeken en papierwaren
SOLDEN
solden
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.