- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 644,45
+ 1288 punten
Omschrijving
Since its invention in 1982, scanning tunneling microscopy (STM) has enabled users to obtain images reflecting surface electronic structure with atomic resolution. This technology has proved indispensable as a characterization tool with applications in surface physics, chemistry, materials science, bio-science, and data storage media. It has also shown great potential in areas such as the semiconductor and optical quality control industries. Scanning Force Microscopy, Revised Edition updates the earlier edition's survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography. Academic and industrial researchers using STM, or wishing to know more about its potential, will find this book an excellent introduction to this rapidly developing field.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 288
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 5
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780195092042
- Verschijningsdatum:
- 25/08/1994
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 164 mm x 245 mm
- Gewicht:
- 680 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 1288 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Cadeau
AANGERADEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.