- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
Chia-Wei Chen
€ 44,95
+ 89 punten
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel
Omschrijving
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 24
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783731514022
- Uitvoering:
- Paperback
- Afmetingen:
- 148 mm x 13 mm
- Gewicht:
- 400 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 89 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
CADEAU
AANGERADEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.