- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Omschrijving
This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 348
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 34
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9789812389404
- Verschijningsdatum:
- 13/08/2004
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Ongenaaid / garenloos gebonden
- Afmetingen:
- 168 mm x 249 mm
- Gewicht:
- 680 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 494 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.