- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 602,95
+ 1205 punten
Omschrijving
This work covers important aspects of X-ray spectrometry, from basic principles to the selection of instrument parameters and sample preparation. This edition explicates the use of combined X-ray fluorescence and X-ray diffraction data, and features new applications in environmental studies, forensic science, archeometry and the analysis of metals and alloys, minerals and ore, ceramic materials, catalysts and trace metals.;This work is intended for spectroscopists, analytical chemists, materials scientists, experimental physicists, mineralogists, biologists, geologists and graduate-level students in these disciplines.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 504
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780824795542
- Verschijningsdatum:
- 26/04/1995
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 158 mm x 229 mm
- Gewicht:
- 766 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 1205 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
AANGERADEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.