Er zijn problemen bij het activeren van e-books. Daardoor kan het langer duren voor je aangekochte e-books beschikbaar zijn. Je ontvangt automatisch bericht van zodra dat het geval is.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • In januari gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Er zijn problemen bij het activeren van e-books. Daardoor kan het langer duren voor je aangekochte e-books beschikbaar zijn. Je ontvangt automatisch bericht van zodra dat het geval is.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • In januari gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Nicola Nicolici, Bashir M Al-Hashimi
Paperback | Engels | Frontiers in Electronic Testing | nr. 22
€ 167,95
Uitvoering
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
178
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 22

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9781441953155
Verschijningsdatum:
9/12/2010
Uitvoering:
Paperback
Formaat:
Trade paperback (VS)
Afmetingen:
156 mm x 234 mm
Gewicht:
276 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

Cadeau

Dubbele punten

bij aankoop van een boek uit de selectie
Cadeau
Actie dubbele punten
AANGERADEN

De lente in je boekenkast

Ontdek onze boekentips om de lente fris, inspirerend en vol leesplezier te beleven
AANGERADEN
Boekentips lente 2026
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.