Door de ongeziene drukte kan je online bestelling met thuislevering op dit moment iets langer onderweg zijn dan voorzien. Dringend iets nodig? Kies voor afhaling in een winkel met voorraad. Onze winkels ontvangen jou met open armen!
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Door de ongeziene drukte kan je online bestelling met thuislevering op dit moment iets langer onderweg zijn dan voorzien. Dringend iets nodig? Kies voor afhaling in een winkel met voorraad. Onze winkels ontvangen jou met open armen!
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 122,45
+ 244 punten
Omschrijving
This third edition includes scatter models for pits and particles as well as the use of wafer scanners to locate and size isolated surface features. New sections cover the multimillion-dollar wafer scanner business, establishing that microroughness is the noise, not the signal, in these systems. New information on scatter from optically rough surfaces has also been added.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 330
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781628418408
- Verschijningsdatum:
- 30/07/2012
- Uitvoering:
- Paperback
- Afmetingen:
- 152 mm x 229 mm
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 244 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.