• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Natuur
  3. Wetenschap
  4. Fysica
  5. Neutron and X-ray Reflectometry

Neutron and X-ray Reflectometry

Emerging phenomena at heterostructure interfaces

Saibal Basu, Surendra Singh
Hardcover | Engels | IOP ebooks
€ 290,45
+ 580 punten
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

The field of ultra-thin films, a subgroup of nanomaterials, has seen an upsurge in research within the last 30 years. Studies have primarily been done using neutron and x-ray reflectometry. The technique of polarized neutron reflectometry or PNR is a unique non-destructive tool to understand thin film magnetism in mesoscopic length scale.

This book presents x-ray and neutron reflectometry techniques and how they can be used to explore interface structure and magnetism at mesoscopic length scale in thin films and multilayers. The text covers the basic principles of neutron and x-ray reflectivity and different mode of neutron reflectivity with many useful examples. The reference text is helpful for research students working in the field of interface magnetism in thin film and multilayers.

Key Features:

  • Introduces the reader to the field of reflectometry, especially polarized neutron reflectometry and x-ray reflectometry.
  • Familiarizes researchers with the importance of interface properties in thin films.
  • Demonstrates with examples how properties can be determined with sub nanometre resolution.
  • Provides a summary with a large number of contemporary examples and references.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
200
Taal:
Engels
Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9780750346931
Verschijningsdatum:
27/12/2022
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
178 mm x 254 mm
Gewicht:
535 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 580 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Wedstrijd

Alleen in onze winkels: Win een weekend voor twee in Parijs

bij aankoop van een titel uit de selectie
Wedstrijd
wedstrijd parijs
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.