• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Neural Models and Algorithms for Digital Testing

S T Chadradhar, Vishwani Agrawal, M Bushnell
€ 156,45
+ 312 punten
Uitvoering
Levering 1 à 2 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82 9 QUADRATIC 0-1 PROGRAMMING 8S 9. 1 Energy Minimization 86 9. 2 Notation and Tenninology . . . . . . . . . . . . . . . . . 87 9. 3 Minimization Technique . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88 9. 4 An Example . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92 9. 5 Accelerated Energy Minimization. . . . . . . . . . . . . 94 9. 5. 1 Transitive Oosure . . . . . . . . . . . . . . . . . 94 9. 5. 2 Additional Pairwise Relationships 96 9. 5. 3 Path Sensitization . . . . . . . . . . . . . . . . . 97 9. 6 Experimental Results 98 9. 7 Summary. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 10 TRANSITIVE CLOSURE AND TESTING 103 10. 1 Background . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104 10. 2 Transitive Oosure Definition 105 10. 3 Implication Graphs 106 10. 4 A Test Generation Algorithm 107 10. 5 Identifying Necessary Assignments 112 10. 5. 1 Implicit Implication and Justification 113 10. 5. 2 Transitive Oosure Does More Than Implication and Justification 115 10. 5. 3 Implicit Sensitization of Dominators 116 10. 5. 4 Redundancy Identification 117 10. 6 Summary 119 References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119 11 POLYNOMIAL-TIME TESTABILITY 123 11. 1 Background 124 11. 1. 1 Fujiwara's Result 125 11. 1. 2 Contribution of the Present Work . . . . . . . . . 126 11. 2 Notation and Tenninology 127 11. 3 A Polynomial TlDle Algorithm 128 11. 3. 1 Primary Output Fault 129 11. 3. 2 Arbitrary Single Fault 135 11. 3. 3 Multiple Faults. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137 11. 4 Summary. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 ix 12 SPECIAL CASES OF HARD PROBLEMS 141 12. 1 Problem Statement 142 12. 2 Logic Simulation 143 12. 3 Logic Circuit Modeling . 146 12. 3. 1 Modelfor a Boolean Gate . . . . . . . . . . . . . 147 12. 3. 2 Circuit Modeling 148 12.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
184
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 140

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9780792391654
Verschijningsdatum:
30/06/1991
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
156 mm x 234 mm
Gewicht:
462 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 312 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Wedstrijd

Alleen in onze winkels: Win een weekend voor twee in Parijs

bij aankoop van een titel uit de selectie
Wedstrijd
wedstrijd parijs
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.