Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
In januari gratis thuislevering in België
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
In januari gratis thuislevering in België
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Winkels

Verlanglijstje

Winkels

Verlanglijstje

Zoeken

Volg ons op

140 winkels

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Vind hier een winkel

€ 57,45

+ 114 punten

Levertermijn 1 à 4 weken

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

In januari gratis thuislevering in België (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

To utilize the full potential of modern composite materials, new and innovative inspection methods are required to detect and classify defects, which are critical to the mechanical properties of the components. Ideally, such methods are non-contact, non-destructive, and can be applied during the manufacturing process, as well as during the complete lifespan of the components. Measurement systems based on millimeter waves meet these requirements, however, so far, such technologies are not used in an industrial environment, despite their potential of increasing the quality and efficiency of composite materials. Based on the propagation properties of millimeter waves, interacting with composite materials, the capabilities of such millimeter-wave-based measurement systems are investigated. Various measurement systems, operating at different frequency ranges within the millimeter wave spectrum, are developed to demonstrate the capabilities of such systems. This includes various signal-processing methods to provide an optimized evaluation of the measured signals, enabling high-resolution, non-destructive, and non-contact tomographic measurements with the presented measurement technology.