- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Microscopy of Semiconducting Materials
1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, University of Oxford, UK
€ 1.167,95
+ 2335 punten
Omschrijving
Microscopy of Semiconducting Materials provides an overview of advances in semiconductor studies using microscopy. This authoritative reference explores the use of transmission and scanning electron microscopy, ultrafine electron probes, and EELS to investigate semiconducting structures. It also covers specimen preparation using focused ion beam milling and advances in microscopy techniques using different types of scanning probes, such as AFM, STM, and SCM. In addition, the volume discusses a range of materials, from finished devices to partly processed materials and structures, including nanoscale wires and dots.
Specificaties
Betrokkenen
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 772
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 164
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780750306508
- Verschijningsdatum:
- 1/01/2000
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 165 mm x 242 mm
- Gewicht:
- 1410 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 2335 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
AANGERADEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.