- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Microscopy of Semiconducting Materials 1987, Proceedings of the Institute of Physics Conference, Oxford University, April 1987
A G Cullis
€ 305,45
+ 610 punten
Omschrijving
Microscopy of Semiconducting Materials 1987 highlights the progress that is being made in semiconductor microscopy, primarily in electron probe methods as well as in light optical and ion scattering techniques. The book covers the state of the art, with sections on high resolution microscopy, epitaxial layers, quantum wells and superlattices, bulk gallium arsenide and other compounds, properties of dislocations, device silicon and dielectric structures, silicides and contacts, device testing, x-ray techniques, microanalysis, and advanced scanning microscopy techniques.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 820
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 87
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780854981786
- Verschijningsdatum:
- 1/10/1987
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 1310 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 610 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.