• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Non-fictie
  3. Wetenschap
  4. Chemie
  5. Materials Characterization Techniques

Materials Characterization Techniques

Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar
Hardcover | Engels
€ 244,45
+ 488 punten
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Experts must be able to analyze and distinguish all materials, or combinations of materials, in use today-whether they be metals, ceramics, polymers, semiconductors, or composites. To understand a material's structure, how that structure determines its properties, and how that material will subsequently work in technological applications, researchers apply basic principles of chemistry, physics, and biology to address its scientific fundamentals, as well as how it is processed and engineered for use.

Emphasizing practical applications and real-world case studies, Materials Characterization Techniques presents the principles of widely used, advanced surface and structural characterization techniques for quality assurance, contamination control, and process improvement.

This useful volume:

  • Explores scientific processes to characterize materials using modern technologies
  • Provides analysis of materials' performance under specific use conditions
  • Focuses on the interrelationships and interdependence between processing, structure, properties, and performance
  • Details the sophisticated instruments involved in an interdisciplinary approach to understanding the wide range of mutually interacting processes, mechanisms, and materials
  • Covers electron, X-ray-photoelectron, and UV spectroscopy; scanning-electron, atomic-force, transmission-electron, and laser-confocal-scanning-florescent microscopy, and gel electrophoresis chromatography
  • Presents the fundamentals of vacuum, as well as X-ray diffraction principles

Explaining appropriate uses and related technical requirements for characterization techniques, the authors omit lengthy and often intimidating derivations and formulations. Instead, they emphasize useful basic principles and applications of modern technologies used to characterize engineering materials, helping readers grasp micro- and nanoscale properties. This text will serve as a valuable guide for scientists and engineers involved in characterization and also as a powerful introduction to the field for advanced undergraduate and graduate students.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
342
Taal:
Engels

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9781420042948
Verschijningsdatum:
1/12/2008
Uitvoering:
Hardcover
Bestandsformaat:
Genaaid
Afmetingen:
157 mm x 236 mm
Gewicht:
612 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 488 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
MUST-HAVES

Hier bloeit iets

Nu dubbele punten op onze selectie nieuwe titels
MUST-HAVES
Hier bloeit iets
AANGERADEN

Onze cadeautips

voor Vaderdag
AANGERADEN
Onze cadeautips voor Vaderdag
VADERDAG ACTIE

Alleen in onze winkels: kortingsbon van € 10 voor e-books

bij een Vivlio e-reader
VADERDAG ACTIE
Vivlio e-reader + € 10 aan e-books
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.