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Omschrijving

La maîtrise statistique des procédés (MSP/SPC) a pour objectif de
prévenir les dérives afin de réduire la variabilité des procédés. Elle
est plus que jamais nécessaire pour pouvoir prétendre à un niveau
de qualité et de fiabilité indispensable en milieu industriel.

Cet ouvrage aborde de manière détaillée les fondements théoriques
de la MSP :

les notions de modélisation de la variabilité, d'estimations usuelles
et d'inférence,

la métrologie pour s'assurer de la fiabilité du système de mesure,

l'aptitude du procédé pour répondre de manière constante à
l'attente du client,

les cartes de contrôle permettant le suivi de la production pour
prévenir les dérives.

Cet ouvrage détaille en outre cinq études de cas industriels qui servent
chacune à répondre aux problèmes de données (non gaussiennes,
non indépendantes ou autocorrélées), ou de mesure et de qualité des
données. Ces applications sont présentées avec le logiciel R, connu
du monde universitaire, et le logiciel JMP, connu du monde industriel.

À la fois guide théorique et pratique, cet ouvrage est destiné à faire
partager à un public d'ingénieurs, d'étudiants en master ou en école
d'ingénieurs, la maîtrise statistique des procédés sous ses aspects
fondamentaux et surtout pratiques.