Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
In januari gratis thuislevering in België
Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
In januari gratis thuislevering in België (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel
Omschrijving
The broad necessity of battery operated portable applications need to explore the low power VLSI research field. The portable applications such as calculator, hearing aids, portable military equipments, laptop, notebook, mobile phone, implantable pacemaker, wristwatches, etc. have the huge market in current scenario. The longer battery performs the better for all such applications. Minimization of the overall power dissipation gets the battery performance. Leakage power dissipation which is the component of total power dissipation is the dominant part in ultra-DSM regime. Therefore, this book has proposed several circuit level leakage reduction techniques for CMOS circuits. Process variability is considerably increasing with technology scaling and causes performance fluctuations. Parameter variations are affecting the leakage current in several ways in ultra-DSM regime. The effect of PVT variations is considered to measure the reliability issues. All proposed approaches are based on individual CMOS logic. These CMOS logics can be employed to design any low leakage logic circuit.