- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Lock-In Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C Schubert
€ 171,45
+ 342 punten
Uitvoering
Omschrijving
This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 321
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 10
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783319998244
- Verschijningsdatum:
- 22/01/2019
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 657 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 342 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Wedstrijd
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.