Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Winkels

Verlanglijstje

Winkels

Verlanglijstje

Zoeken

Volg ons op

140 winkels

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Vind hier een winkel

€ 71,45

+ 142 punten

Levertermijn 1 à 4 weken

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

This book is a product of a fascinating research done through an attempt to find a fast and an accurate means of performing I-V measurements across a semiconducting thin film sample by use of a four point probe system that adopts a Van der Pauw symmetry. From the book, the reader will gain vast knowledge in Thin film Physics, elecronic design, computer interfacing computer automation and measurements in LabVIEW platform. The book outlines step-by-step design and fabrication procedures of the probe head and the Van der Pauw switching device. The interfacing of the Keithley SourceMeter 2400 to a LabVIEW running computer via the serial port is also explained in details. The interfacing of the Van der Pauw circuit to the Computer via the parallel port for switching of the probe tips on the sample surface is also addressed. The book further explains the deposition of Cuprous Oxide thin films on a glass substrate by sputtering technique and explores how the deposition parameters affects the I-V characteristics of these thin films. The reader is encouraged to have a keen look at each design step and carefully follow through the block diagram codes for better understanding.