Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- In januari gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- In januari gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
In Situ Characterization of Thin Film Growth
€ 222,45
+ 444 punten
Omschrijving
Part one reviews electron diffraction techniques, including the methodology for taking observations and measurements. Part two covers photoemission techniques; the principles and instrumentation. Part three contains alternative in-situ characterisation techniques and the trend for combining different techniques.
Specificaties
Betrokkenen
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 296
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781845699345
- Verschijningsdatum:
- 5/10/2011
- Uitvoering:
- Hardcover
- Afmetingen:
- 167 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 580 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 444 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
SOLDEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.