Standaard Boekhandel gebruikt cookies en gelijkaardige technologieën om de website goed te laten werken en je een betere surfervaring te bezorgen.
Hieronder kan je kiezen welke cookies je wilt inschakelen:
Technische en functionele cookies
Deze cookies zijn essentieel om de website goed te laten functioneren, en laten je toe om bijvoorbeeld in te loggen. Je kan deze cookies niet uitschakelen.
Analytische cookies
Deze cookies verzamelen anonieme informatie over het gebruik van onze website. Op die manier kunnen we de website beter afstemmen op de behoeften van de gebruikers.
Marketingcookies
Deze cookies delen je gedrag op onze website met externe partijen, zodat je op externe platformen relevantere advertenties van Standaard Boekhandel te zien krijgt.
Je kan maximaal 250 producten tegelijk aan je winkelmandje toevoegen. Verwijdere enkele producten uit je winkelmandje, of splits je bestelling op in meerdere bestellingen.
Voltage Stability analysis is a very vital and challenging issue of the power system and maintains the stable bus voltage profile is the biggest problem. Here we applied Modal analysis, Line voltage stability indices, to study voltage collapse problem and find the weakest bus in the test bus system by using the PV curve. After investigating the weak bus, we have injected the shunt devices for maintaining the voltage profile. All parameter decided for voltage collapse by the PSAT MATLAB simulation. The modal analysis gives the Eigenvalue and Participation factor and these values help to find the weakest node in the system. Here see that smallest Eigenvalue gives the voltage collapse point and Line Voltage stability Indices help to find the weakest line corresponding to the weakest bus. We proposed the comparative analysis of three-line indices, Line Stability Index, Fast Voltage Stability Index, and Line Stability or Quality Factor. The PV curve gives the voltage collapse point with and without injecting shunt devices in the test bus system. The effectiveness of the line stability indices is demonstrated through simulation studies in IEEE 14 and IEEE 30 bus test system.