Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
In januari gratis thuislevering in België
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
In januari gratis thuislevering in België
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Winkels

Verlanglijstje

Winkels

Verlanglijstje

Zoeken

Volg ons op

140 winkels

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Vind hier een winkel

€ 181,95

+ 363 punten

Levering 1 à 2 weken

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

In januari gratis thuislevering in België (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

The characterisation of materials and material systems is an essential aspect of materials science. A few decades ago it became obvious that, because the properties of materials depend so critically on the microstructure of their components, this characterisation must be determined to the atomic level. This means that the position - as well as the nature - of individual atoms has to be determined at "critical" regions close to defects such as dislocations, interfaces, and surfaces. The great impact of advanced transmission electron microscopy (TEM) techniques became apparent in the area of semiconducting materials, where the nature of internal interfaces between silicon and the corresponding silicides could be identified, and the results used to enhance the understanding of the properties of the compounds studied. At that time, advanced TEM techniques existed predominantly in the US. However, advanced TEM instrumentation was not available in the ma terials science and solid-state science communities in Germany. This gap was bridged by the late Peter Haasen who, after a visit to the US, initiated a Priority Programme on Microstructural Characterisation at the Volkswagen Foundation (Hannover). The programme was in effect from 1985 to 1997 and supported a wide range of research projects - from fundamental, trendy, innovative projects to projects in applied materials science.