- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
High-Level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-On-Chip
Zheng Wang, Anupam Chattopadhyay
€ 167,95
+ 335 punten
Uitvoering
Omschrijving
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 197
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9789811093210
- Verschijningsdatum:
- 12/05/2018
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 312 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 335 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.