- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Fundamentals of Crystallography, Powder X-ray Diffraction, and Transmission Electron Microscopy for Materials Scientists
Dong (Nanyang Technological University, Singapore) ZhiLi
€ 67,95
+ 135 punten
Omschrijving
The goal of this textbook is to effectively equip readers with an in-depth understanding of crystallography, x-ray diffraction, and transmission electron microscopy theories as well as applications. It is written as an introduction to the topic with minimal reliance on advanced mathematics.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 272
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781032246802
- Verschijningsdatum:
- 28/11/2025
- Uitvoering:
- Paperback
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 453 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 135 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
LANG LEVE LEZEN
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.