- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Fundamentals of Crystallography, Powder X-Ray Diffraction, and Transmission Electron Microscopy for Materials Scientists
Dong Zhili
€ 228,95
+ 457 punten
Uitvoering
Omschrijving
The goal of this textbook is to effectively equip readers with an in-depth understanding of crystallography, x-ray diffraction, and transmission electron microscopy theories as well as applications. It is written as an introduction to the topic with minimal reliance on advanced mathematics.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 272
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780367357948
- Verschijningsdatum:
- 24/05/2022
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 580 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 457 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Cadeau
AANGERADEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.