- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Omschrijving
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of study. These lecture notes aim to provide advanced undergraduates and beginning graduates in all fields of science and engineering with the required knowledge to sensibly use an AFM. Relevant background material is often reviewed in depth and summarized in a pedagogical, self-paced style to provide a fundamental understanding of the scientific principles underlying the use and operation of an AFM.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 340
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 4
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9789814630351
- Verschijningsdatum:
- 29/11/2015
- Uitvoering:
- Paperback
- Formaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 150 mm x 229 mm
- Gewicht:
- 476 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 146 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.