- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 425,95
+ 851 punten
Omschrijving
In this second edition, the authors identify the sources of failure mechanism in semiconductor devices, examine possible detection and elimination techniques, and determine the effectiveness of reliability devices. The references have been updated and recent advances are discussed.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 360
- Taal:
- Engels
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780471954828
- Verschijningsdatum:
- 4/08/1997
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 166 mm x 236 mm
- Gewicht:
- 616 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 851 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Wedstrijd
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.