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Omschrijving

Dieses Buch beschreibt eine umfassende Kombination von Methoden, die den modernen Virtual Prototype (VP)-basierten Verifikationsfluss für heterogene Systems-on-Chip (SOCs) stark verbessern. Insbesondere kombiniert das Buch Verifikations- und Analyseaspekte über verschiedene Stufen des VP-basierten Verifikationsflusses hinweg und bietet eine neue Perspektive auf die Verifikation, indem es fortschrittliche Techniken wie metamorphes Testen, Datenfluss-Testen und Informationsfluss-Testen einsetzt. Darüber hinaus legt das Buch einen starken Schwerpunkt auf fortschrittliche, abdeckungsorientierte Methoden zur Verifizierung des funktionalen Verhaltens des SOC sowie zur Gewährleistung seiner Sicherheit.

Bietet eine umfassende Einführung in den modernen VP-basierten Verifikationsablauf für heterogene SOCs;
Stellt eine neuartige metamorphe Testtechnik für heterogene SOCs vor, die keine Referenzmodelle erfordert;
Enthält automatisierte, fortschrittliche, auf Datenflussabdeckung basierende Methoden, die auf SystemC/AMS-basierte VP zugeschnitten sind;
Beschreibt erweiterte funktionale abdeckungsgesteuerte Methoden zur Verifizierung verschiedener funktionaler Verhaltensweisen von RF-Verstärkern.