Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- In januari gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- In januari gratis thuislevering in België
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
€ 135,45
+ 270 punten
Omschrijving
This sixth edition emphasizes staring array analysis and provides NVIPM, TRM4, and TOD comparisons; frequency (MTF) versus spatial (pixels on target) analysis; two-dimensional versus two-directional analyses; F?/d approach to modelling and system resolution; in-band and out-of-band sampling artifacts; and numerous trade studies.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 407
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781510611023
- Verschijningsdatum:
- 30/06/2017
- Uitvoering:
- Hardcover
- Afmetingen:
- 158 mm x 235 mm
- Gewicht:
- 724 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 270 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
CADEAU
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.