- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Electrical and Thermal Characterization of MESFETs, HEMTs and HBTs
Robert Anholt
€ 256,95
+ 513 punten
Omschrijving
This work provides a comprehensive discussion of the bias dependence of equivalent circuit parameters for the three devices and an extensive discussion of temperature dependence. It: covers recess-etched MESFETs and self-aligned MESFETs with and without lightly-doped-drains and JFETs; analyzes GaAs-based pHEMTS and InP lattice-matched HEMT equivalent circuits; and describes a large-signal, temperature-dependent model extractor for A1GaAs-GaAs HBTs. The book is intended for circuit designers, process and device developers and test engineers.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 324
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780890067499
- Verschijningsdatum:
- 30/11/1994
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 160 mm x 237 mm
- Gewicht:
- 603 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 513 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Cadeau
AANGERADEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.