Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • In januari gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • In januari gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Natuur
  3. Wetenschap
  4. Fysica
  5. Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and Imaging

Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and Imaging

Zhong Lin Wang
Hardcover | Engels | Springer Solid-State Sciences | nr. 205
€ 305,45
+ 610 punten
Levering 2 à 3 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
In januari gratis thuislevering in België (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

This book provides an in-depth exploration of the physics underlying electron diffraction and imaging, with a focus on their applications in materials characterization. Originally published in 1995, the first edition systematically summarized various dynamic theories associated with quantitative electron microscopy and their applications in simulations of electron diffraction patterns and images. Since then, significant progress has been made in the field, necessitating this revised second edition.

The second edition introduces new content, particularly emphasizing the diffraction and imaging of inelastically scattered electrons, a topic that has not been extensively covered in existing literature. This edition also includes updated theories and methodologies, reflecting the advancements in the field over the past decades. The book assumes that readers have a foundational understanding of electron microscopy, electron diffraction, and quantum mechanics. It aims to serve as a comprehensive guide for approaching phenomena observed in electron microscopy from the perspective of diffraction physics.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
495
Taal:
Engels
Reeks:
Reeksnummer:
nr. 205

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9783031908187
Verschijningsdatum:
2/11/2025
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
155 mm x 235 mm
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 610 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
SOLDEN

30% korting

op een mooie selectie boeken en papierwaren
SOLDEN
solden
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.