Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • In januari gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Bedankt voor het vertrouwen het afgelopen jaar! Om jou te bedanken bieden we GRATIS verzending (in België) aan op alles gedurende de hele maand januari.
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • In januari gratis thuislevering in België
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Bedrijf & Technologie
  3. Techniek
  4. Elektronica & Elektrotechniek
  5. Defect and Impurity Engineered Semiconductors II: Volume 510

Defect and Impurity Engineered Semiconductors II: Volume 510

Hardcover | Engels | Mrs Proceedings
€ 39,45
+ 78 punten
Levering 1 à 2 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
In januari gratis thuislevering in België (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

The evolution of semiconductor devices of progressively higher performance has generally followed improved material quality with ever fewer defect concentrations. However, a shift in focus over the years has brought the realization that complete elimination of defects in semiconductors during growth and processing is neither desirable nor necessary. It is expected that the future role of defects in semiconductors will be one of control - in density, properties, spatial location, and perhaps even temporal variation during the operating lifetime of the device. This book explores the effective use of defect control at various facets of technology and widely different semiconductor materials systems. Topics include: grown-in defects in bulk crystals; doping issues; grown-in defects in thin films; doping and defect issues in wide-gap semiconductors; process-induced defects and gettering; defect properties, reactions, activation and passivation; ion implantation and irradiation effects; defects in devices and interfaces; plasma processing; defect characterization; and interfaces, quantum wells and superlattices.

Specificaties

Betrokkenen

Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
704
Taal:
Engels
Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9781558994164
Verschijningsdatum:
14/09/1998
Uitvoering:
Hardcover
Formaat:
Genaaid
Afmetingen:
163 mm x 229 mm
Gewicht:
1133 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 78 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
SOLDEN

30% korting

op een mooie selectie boeken en papierwaren
SOLDEN
solden
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.