- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée
Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Paperback | Frans
€ 43,26
Omschrijving
Etude de la détection de défauts de matériaux par la lumière polarisée et description des méthodes issues de la recherche fondamentale sur les matériaux innovants. Les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde permettant de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit sont plus particulièrement traitées.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 289
- Taal:
- Frans
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9781784051655
- Verschijningsdatum:
- 27/07/2016
- Uitvoering:
- Paperback
- Afmetingen:
- 160 mm x 240 mm
Alleen bij Standaard Boekhandel
Cadeau
AANGERADEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.