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Omschrijving

Das Buch schafft die Grundlage für ein einheitliches Verständnis von attributiven Prüfprozessen in der Produktion. Gleichzeitig werden die Besonderheiten von attributiven Prüfprozessen - im Gegensatz zu kontinuierlich messenden Prüfprozessen - dargelegt. Neben der Definition und der Abgrenzung zu anderen Prüfprozessen werden insbesondere auch Anwendungsfälle wie die Sichtprüfung oder optische, attributive Prüfprozesse betrachtet. Hierbei werden zusätzlich zur Beschreibung Hilfestellungen zum Umgang mit den Prüfprozessen gegeben. Diese umfassen auch den Umgang mit Machine-Learning-Algorithmen, die in der Bildverarbeitung von optischen Sensoren verstärkt eingesetzt werden.Das Buch schließt mit dem Thema Eignungsnachweis von attributiven Prüfprozessen ab. Für den Eignungsnachweis attributiver Prüfprozesse gibt es an verschiedenen Stellen Richtlinien und Normen (z. B. VDA-Band 5, VDA-Band 5.3, ISO/TC 69/SC 7). Diese werden zusammengefasst, verglichen und um weitere Hilfestellungen ergänzt.