- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Atom Probe Field Ion Microscopy
M. K. (Metals and Ceramics Division, Metals and Ceramics Divisio, A. (Department of Materials, Department of Materials, University, M. G. Hetherington, G. D. W. (Professor Of Materials Science, Department of Material
€ 323,45
+ 646 punten
Omschrijving
A definitive account of the theory, practice, and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. New applications for this technique are rapidly emerging and graduate level material and surface scientists will enjoy this account of the state-of-the-art.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 520
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9780198513872
- Verschijningsdatum:
- 19/09/1996
- Uitvoering:
- Hardcover
- Afmetingen:
- 164 mm x 242 mm
- Gewicht:
- 1042 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 646 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
E-BOOK ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.