- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Atomic-Scale Structure Determination
Yoshio Waseda
€ 213,95
+ 427 punten
Uitvoering
Omschrijving
A new materials characterization methods, anomalous X-ray scattering, is presented in this book.
Specificaties
Betrokkenen
- Auteur(s):
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 214
- Taal:
- Engels
- Reeks:
- Reeksnummer:
- nr. 179
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783540434436
- Verschijningsdatum:
- 11/09/2002
- Uitvoering:
- Hardcover
- Formaat:
- Genaaid
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 503 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 427 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Cadeau
AANGERADEN
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.