Door de nationale actiedag kan je online bestelling iets langer onderweg zijn dan normaal. Dringend iets nodig? Reserveer en haal na 1u af in een winkel met voorraad.

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Door de nationale actiedag kan je online bestelling iets langer onderweg zijn dan normaal. Dringend iets nodig? Reserveer en haal na 1u af in een winkel met voorraad.

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Winkels

Verlanglijstje

Winkels

Verlanglijstje

Zoeken

Volg ons op

140 winkels

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Vind hier een winkel

€ 150,95

+ 301 punten

Uitvoering

Verwachte beschikbaarheidsdatum onbekend

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

This book highlights the application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for high-resolution surface analysis and characterization of materials. While providing a brief overview of the principles of SIMS, it also provides examples of how dual-beam ToF-SIMS is used to investigate a range of materials systems and properties. Over the years, SIMS instrumentation has dramatically changed since the earliest secondary ion mass spectrometers were first developed. Instruments were once dedicated to either the depth profiling of materials using high-ion-beam currents to analyse near surface to bulk regions of materials (dynamic SIMS), or time-of-flight instruments that produced complex mass spectra of the very outer-most surface of samples, using very low-beam currents (static SIMS). Now, with the development of dual-beam instruments these two very distinct fields now overlap.