• Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  • Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
  • Gratis thuislevering in België vanaf € 30
  • Ruim aanbod met 7 miljoen producten
  1. Boeken
  2. Bedrijf & Technologie
  3. Techniek
  4. Elektronica & Elektrotechniek
  5. An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits

An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits

Introducing Fault-Tolerance With Higher Noise-Immunity For The Nano-Circuits As Compared To CMOS And MRF Designs

Jahanzeb Anwer, Nor Hisham Bin Hamid, Vijanth Sagayan Asirvadam
Paperback | Engels
€ 70,45
+ 140 punten
Levertermijn 1 à 4 weken
Eenvoudig bestellen
Veilig betalen
Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)
Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

As the MOSFET dimensions scale down to nanoscale level, the reliability of circuits based on these devices decreases. Therefore, a mechanism has to be devised that can make the nanoscale systems perform reliably using unreliable circuit components. The solution is fault-tolerant circuit design. Markov Random Field (MRF) is an effective approach that achieves fault-tolerance in integrated circuit design. The previous research on this technique suffers from limitations at the design, simulation and implementation levels. As improvements, the MRF fault-tolerance rules have been validated for a practical circuit example. The simulation framework is extended from thermal to a combination of thermal and random telegraph signal noise sources to provide a more rigorous noise environment for the simulation of nanoscale circuits. Moreover, an architecture-level improvement has been proposed in the design of previous MRF gates. The re-designed MRF is termed as Improved-MRF. By simulating various test circuits in Cadence, it is found that Improved-MRF circuits are 400 whereas MRF circuits are only 10 times more noise-tolerant than the CMOS alternatives.

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):
Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:
88
Taal:
Engels

Eigenschappen

Productcode (EAN):
9783844332636
Verschijningsdatum:
10/05/2011
Uitvoering:
Paperback
Afmetingen:
152 mm x 229 mm
Gewicht:
141 g
Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 140 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
Wedstrijd

Alleen in onze winkels: Win een weekend voor twee in Parijs

bij aankoop van een titel uit de selectie
Wedstrijd
wedstrijd parijs
Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.